PV06600 - SEMI PV66 - Test Method for Determining the Aspect Ratio of Solar Cell Metal Fingers by Confocal Laser Scanning Microscope Revision:SEMI PV66-0715 - Superseded GEMはデバイス製造業者と装置サプライヤの双方に経済的な利益をもたらすことを目的としている。装置サプライヤは，大部分の顧客を満足させるようなただ一つのSECS-IIインターフェースを開発して市場に出せることにより利益を受け，デバイス製造業者は，あらゆる製造装置で機能が向上しSECS-IIインターフェースが標準化されることで利益を受ける。標準化によって装置サプライヤとデバイス製造業者のどちらもソフトウエア開発コストを削減できる。コストを減らして機能を向上させることによって，デバイス製造業者は半導体工場の自動化をもっと速く効果的に行うことができる。GEMスタンダードの持つ柔軟性のために，デバイス製造業者は業界で共通な枠組みの中で独自の自動化を実現することが可能になる。

GEMはデバイス製造業者と装置サプライヤの双方に経済的な利益をもたらすことを目的としている。装置サプライヤは，大部分の顧客を満足させるようなただ一つのSECS-IIインターフェースを開発して市場に出せることにより利益を受け，デバイス製造業者は，あらゆる製造装置で機能が向上しSECS-IIインターフェースが標準化されることで利益を受ける。標準化によって装置サプライヤとデバイス製造業者のどちらもソフトウエア開発コストを削減できる。コストを減らして機能を向上させることによって，デバイス製造業者は半導体工場の自動化をもっと速く効果的に行うことができる。GEMスタンダードの持つ柔軟性のために，デバイス製造業者は業界で共通な枠組みの中で独自の自動化を実現することが可能になる。

It is unnecessary

SEMI M31-1104 (technical revision)

total oxidizable carbon (TOC) analysis

PV06600 - SEMI PV66 - Test Method for Determining the Aspect Ratio of Solar Cell Metal Fingers by Confocal Laser Scanning Microscope Revision:SEMI PV66-0715 - Superseded GEMはデバイス製造業者と装置サプライヤの双方に経済的な利益をもたらすことを目的としている。装置サプライヤは，大部分の顧客を満足させるようなただ一つのSECS-IIインターフェースを開発して市場に出せることにより利益を受け，デバイス製造業者は，あらゆる製造装置で機能が向上しSECS-IIインターフェースが標準化されることで利益を受ける。標準化によって装置サプライヤとデバイス製造業者のどちらもソフトウエア開発コストを削減できる。コストを減らして機能を向上させることによって，デバイス製造業者は半導体工場の自動化をもっと速く効果的に行うことができる。GEMスタンダードの持つ柔軟性のために，デバイス製造業者は業界で共通な枠組みの中で独自の自動化を実現することが可能になる。The purpose of this Standard is to standardize a fast and accurate test method for determining the aspect ratio of solar cell metal fingers by confocal laser scanning microscope (CLSM). This Standard defines the test method for determining the aspect ratio of solar cell metal finger. This Standard applies to test the aspect ratio of solar cell metal finger by CLSM. Referenced SEMI Standards (purchase separately) None. Revision History SEMI PV66 0715